ZL2817D系列LCR數(shù)字 電橋是本公司新研制的低頻元件測量儀器的換代產(chǎn)品，其中應(yīng)用多項(xiàng)元件測量的技術(shù)，大字符LCD顯示，SMD貼片工藝，操作方便，外形美觀。可直接測量多達(dá)六種的元件參數(shù)組合，能滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證，進(jìn)貨檢驗(yàn)及自動(dòng)化生產(chǎn)的需要。
RS-232接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。HANDLER接口可連接元件自動(dòng)分選系統(tǒng)。
ZL2817D系列LCR數(shù)字電橋性能特點(diǎn)
簡便操作與強(qiáng)大功能的合理結(jié)合
采用SMT表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性
大型白色背光LCD顯示屏
100Hz～100kHz,8個(gè)典型測試頻率
0.1V、0.3V、1.0V三個(gè)典型測試電平
30Ω/100Ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同LCR表的測試*性
配置RS232接口和HANDLER接口
ZL2817D系列LCR數(shù)字電橋技術(shù)指標(biāo)
測 量 功 能 |
測試參數(shù) | 六種測量參數(shù)組合: C/D、L/Q、R/Q、Z/θ、C/R、L/R |
基本準(zhǔn)確度 | 0.1% |
等效電路 | 串聯(lián)、并聯(lián) |
量程方式 | 自動(dòng)、保持 |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部、手動(dòng)、外部 |
測試速度 | 快速: 16次/秒
中速: 8次/秒
慢速: 2次/秒 |
校正功能 | 開路、短路、掃頻清零 |
顯示方式 | 直讀/Δ/Δ% |
顯示器 | 5位分辨率,帶背光LCD顯示屏 |
測 量 信 號 |
測量信號頻率 | 100Hz、120Hz、
1kHz、 10kHz、
20kHz、40kHz、
50kHz、100kHz |
測量信號電平 | 0.1Vrms、0.3Vrms、1.0Vrms |
輸出電阻 | 30Ω、100Ω |
測 量 顯 示 范 圍 |
|Z|、R、X | 0.0001Ω～99.999MΩ |
C | 0.001pF～99999μF |
L | 0.001μH～99999H |
D | 0.0001～9.9999 |
Q | 0.0001～9999.9 |
Δ% | -99.99%～99.99% |
比 較 器 及 接 口 |
比較器 | 五檔分選,三檔合格,一檔不合格,一個(gè)附屬檔 |
接口 | RS232C(標(biāo)配)、HANDLER(選件) |
體積 | 320mm×140mm×360mm |
重量 | ～2.5kg |
數(shù)字電橋就是能夠測量電感，電容，電阻，阻抗的儀器，這是一個(gè)傳統(tǒng)習(xí)慣的說法， 早的阻抗測量用的是真正的電橋方法，隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR 數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCR Meter等等。
性能特點(diǎn):
廣泛的測量對象
半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
多參數(shù)混合顯示功能
多參數(shù)同時(shí)顯示可滿足復(fù)雜元件各種分布參數(shù)的全面觀察與評估要求，而不必反復(fù)切換測量參數(shù)。
電感L和其直流電阻DCR可以同時(shí)測量顯示，顯著提高電感測量效率。
揭示電感器件的多種特性
使用內(nèi)部/外部直流偏置，結(jié)合各種掃描測試功能，可以地分析磁性材料、電感器件的性能。
通過偏置電流疊加測試功能，可以測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用外部電流疊加裝置，可使偏置電流達(dá)40A以分析高功率、大電流電感器件。
的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時(shí)其容量、損耗施加之交流信號會(huì)產(chǎn)生明顯的變化。
儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度，六位分辨率和自動(dòng)電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容－電壓（C－Vac)特性是評價(jià)液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個(gè)問題是大測試電壓不夠。
使用擴(kuò)展測量選件可提供分辨率為1%及
高達(dá)20Vms的可編程測試信號電平，使它能在條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測量。
半導(dǎo)體材料和元件的測量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價(jià)時(shí)，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。
通過提供的直流源，結(jié)合各種掃描功能，可以方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至小。
各種二極管、三極管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內(nèi)容
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